- Docente: Emilio Parisini
- Crediti formativi: 6
- SSD: CHIM/03
- Lingua di insegnamento: Italiano
- Modalità didattica: Convenzionale - Lezioni in presenza
- Campus: Bologna
- Corso: Laurea in Chimica e chimica dei materiali (cod. 8006)
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dal 18/09/2024 al 19/12/2024
Conoscenze e abilità da conseguire
Al termine del corso lo studente conosce i principi deimetodi d'indagine strutturale che utilizzano i raggi X ed altre radiazioni di lunghezza d'onda comparabile
Contenuti
- Elementi di cristallografia: simmetria, classi cristalline, gruppi spaziali, sistemi cristallini, unità asimmetrica, coordinate frazionarie
- Le tabelle internazionali di cristallografia. Assenze sistematiche
- Geometria cristallina. Assi, piani, indici di Miller
- Reticolo reciproco. Costruzione e significato del reticolo reciproco, relazioni tra reticolo reciproco e reticolo reale
- Diffrazione di raggi X. Interpretazione di Laue, interpratazione di Bragg, interpretazione di Ewald
- Fattori di struttura e trasformate di Fourier. Fattore di diffusione atomico, fattore di struttura, intensità diffratta, problema della fase
- Strumentazione. Generatori di raggi X, luce di sincrotrone, diffrattometro per cristallo singolo e per polveri
- Diffrazione di raggi X da cristallo singolo. Metodi di cristallizzazione, strumentazione, risoluzione della struttura mediante metodi diretti, metodi di affinamento della struttura, analisi della struttura molecolare e dei suoi parametri termici. Uso della banca dati cristallografici (Cambridge Structural Database, CSD)
- Diffrazione di raggi X da cristalli di proteine. Preparazione del campione, metodi di risoluzione della struttura, metodi di validazione strutturale, uso della banca dati cristallografici (Protein Data Bank, PDB)
- Cristallografia a raggi X risolta nel tempo. Pump-probe, diffusion-trapping
- Diffrazione di raggi X da polvere. Preparazione del campione, strumentazione, informazioni che si ottengono dal diffrattogramma
- Analisi quantitativa di pattern di polveri. Riconoscimento delle fasi in campo organico ed inorganico
- Microscopia elettronica a trasmissione (TEM). Immagini in campo chiaro, in campo scuro, ad alta risoluzione. Diffrazione di elettroni
Testi/Bibliografia
Appunti di lezione e altro materiale didattico distribuito dal docente
G.H. Stout and L.H Jensen: "X-ray structure determination. A practical guide" (J. Wiley and Sons)
Per ulteriori approfondimenti si consigliano:
A. Immirzi, C. Tedesco: "La diffrazione dei cristalli" (Libreriauniversitaria.it)
C. Giacovazzo, H.L. Monaco, G. Artioli, D. Viterbo, G. Ferraris, G. Gilli, G. Zanotti, M. Catti: "Fundamentals of Crystallography" (Oxford University Press, USA
Metodi didattici
Il corso prevede lezioni frontali ed esercitazioni pratiche
Modalità di verifica e valutazione dell'apprendimento
La verifica dell'apprendimento avviene attraverso l'esame finale, che accerta l'acquisizione delle conoscenze e delle abilita' attese tramite prova orale. La prova orale verte sugli argomenti del corso ed e' indirizzata a verificare il raggiungimento da parte dello studente della comprensione degli aspetti teorici e sperimentali delle metodologie oggetto del corso. Il voto finale e' espresso in trentesimi.
Strumenti a supporto della didattica
Presentazioni power point ed esercitazioni pratiche in laboratorio
Orario di ricevimento
Consulta il sito web di Emilio Parisini