- Docente: Cecilia Metra
- Crediti formativi: 6
- SSD: ING-INF/01
- Lingua di insegnamento: Inglese
- Moduli: Cecilia Metra (Modulo 1) Martin Eugenio Omana (Modulo 2)
- Modalità didattica: Convenzionale - Lezioni in presenza (Modulo 1) Convenzionale - Lezioni in presenza (Modulo 2)
- Campus: Bologna
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Corso:
Laurea Magistrale in
Electric Vehicle Engineering (cod. 5699)
Valido anche per Laurea Magistrale in Electronic Engineering for Intelligent Vehicles (cod. 5917)
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Orario delle lezioni (Modulo 1)
dal 24/09/2024 al 18/12/2024
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Orario delle lezioni (Modulo 2)
dal 17/09/2024 al 17/12/2024
Conoscenze e abilità da conseguire
The course will first address the problem of fault modeling, with reference to the automotive environment, to then study testing, design for testability and hardware in the loop approaches. Then, onboard monitoring and diagnosis will be addressed, to finally study fault tolerant techniques for reliable systems’ design. The course will include laboratory experiences, and possible seminars given by experts in the field from the industrial world.
Contenuti
Introduzione al collaudo di circuiti e sistemi elettronici digitali
- Definizioni e motivazioni
- Collocazione all'interno del processo di realizzazione di chip VLSI
- Resa del processo e costo di produzione di un circuito integrato
- Alcuni tipi di collaudo: Characterization Testing; Manufacturing Testing; Burn-In; Incoming Inspection
Modelli di guasto
- Guasti di tipo stuck-at: principi di base sul collaudo nei confronti di guasti di tipo stuck-at
- Equivalenza di guasti e “Fault Collapsing”
- Teorema del “Checkpoint”
- Dominanza di guasti e “Fault Collapsing”
- Guasti di tipo stuck-open: possibile collaudo
- Guasti di tipo stuck-on: possibile collaudo
- Guasti di tipo bridging resistivo, delay, crosstalk e transitori: possibile collaudo
Automatic Test Pattern Generation (ATPG)
- Definizione
- Algebre per ATPG
- Algoritmi esaustivi
- Algoritmi random
- “Path Sensitization”
- Copertura di guasti ed efficienza del collaudo
Macchine automatiche di collaudo (ATE)
- Componenti e specifiche
- Costo del collaudo mediante ATE
- Definizioni e Motivazioni
- Fault Dictionary
- Diagnostic Tree
Tecniche di progettazione orientata al collaudo (DFT)
- Introduzione
- Metodi ad-hoc e metodi strutturali
- Full-scan
- Partial scan
- Boundary scan
- Built-in-self-test (BIST)
- Built-in logic block observer (BILBO)
- Hardware in the loop approaches
Tecniche di progettazione Fault Tolerant
- Introduzione: applicazioni, motivazioni
- Ridondanza Modulare: strategie di base; realizzazioni e affidabilità del voter; guasti di modo comune; diagnosi dei moduli guasti
- On-line testing e recovery: duplicazione e confronto; progettazione self-checking
- Progettazione self-checking: proprietà circuiti self-checking; ipotesi di guasto; progetto di blocchi funzionali self-checking; progetto di checker; error indicators.
- Codici a rivelazione d'errore (codici di Berger e relativi checker; codici di parità e relativi checker; codice two-rail e relativi checker; codice m-out-of-m e relativi checker)
- Recovery: rollback and retry; tecniche riconfigurazione
- Codici a correzione d'errore: codici lineari di parità (codici di Hamming; codici di Hsiao); circuiti di codifica e decodifica
Il corso comprende esercitazioni di laboratorio su:
- simulazione elettrica di guasti di tipo bridging resistivo, crosstalk, e transitorio ed analisi dei loro effetti
- progettazione di componenti base di sistemi per applicazioni ad alta affidabilità e loro realizzazione mediante Field Programmable Gate Arrays.
Testi/Bibliografia
J. Segura C. F. Hawkins, “CMOS Electronics – How It Works, How It Fails” IEEE Press – Wiley, 2004.
M. L. Bushnell, V. D. Agrawal, “Essential of Electronic Testing”, Kluwer Academic Publishers, 2000
M. Abramovici, M. A. Bruer, A. D. Friedman, “Digital Systems Testing and Testable Design”, Computer Science Press, 1990
S. Mourad, Y. Zorian, “Principles of Testing Electronic Systems”, Essential of Electronic Testing”,Wiley, 2000
N. K. Jha, S. Kundu, “Testing and Reliable Design of CMOS Circuits”, Kluwer Academic Publishers, 1990
P. K. Lala, “Self-Checking and Fault Tolerant Digital Design”, Morgan Caufmann Publ, 2001
Metodi didattici
Lezioni in aula e esercitazioni al calcolatore svolte in laboratorio.
Modalità di verifica e valutazione dell'apprendimento
Esame orale. Le domande riguarderanno qualsiasi argomento trattato a lezione e in laboratorio. Potranno seguire domande specifiche volte a verificare la comprensione delle problematiche specifiche inerenti agli argomenti trattati nel corso. Il voto finale sarà formulato tenendo conto delle risposte fornite alle domande poste.
Strumenti a supporto della didattica
PC, videoproiettore, diapositive Power Point.
Orario di ricevimento
Consulta il sito web di Cecilia Metra
Consulta il sito web di Martin Eugenio Omana